OTSUKA大冢-線掃描膜厚計|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產品名稱：OTSUKA大冢-線掃描膜厚計
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

OTSUKA大冢-線掃描膜厚計在線薄膜生產現場能夠對薄膜的膜厚進行全幅、全長測量的裝置。通過在獨自的分光干涉法中組合新開發的高精度膜厚演算處理技術，以每*短0.01秒的測定間隔，可以進行500mm寬(1臺使用時)的薄膜的膜厚測定。OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計

詳情介紹：

OTSUKA大冢-線掃描膜厚計

在線薄膜生產現場能夠對薄膜的膜厚進行全幅、全長測量的裝置。
通過在獨自的分光干涉法中組合新開發的高精度膜厚演算處理技術，以每*短0.01 秒的測定間隔，可以進行500mm寬(1臺使用時)的薄膜的膜厚測定。

特長OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計

通過采用線掃描方式實現沒有“脫落”的全長和全長膠卷檢查

硬軟件一起設計原創設計

因為是膜厚測定的專門制造廠，所以能夠充實的支持

高精度測量（取得磚利）

高速可以測量

強制性強

寬的樣本（可以在TD方向*大10m測量）

フィルムの幅に合わせて検出器を増設可能（MAX10m）

仕様

測定項目	膜厚（FFT）
位置分解能	1mm
測定幅	500mm
波長範囲	400 ～ 920nm
1素子當たりの波長幅	約 0.6nm
膜厚測定範囲	2 ～ 250μm
測定間隔	10msec ～