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  • 它是一種可以使用小角度光散射方法在原位實時分析聚合物和薄膜結構的設備。與使用 X 射線或中子的設備相比,可以評估更大的結構(微米級)。
  • 可以使用單個設備分析不同的組分,例如陽離子和陰離子。 使用少量樣品即可進行短時間、高分辨率的分析。
  • 可以通過靜態光散射法測量 dn/dc 來確定重均分子量。
  • 優良分子量、慣性半徑和**維里系數可以使用靜態光散射方法測量。
  • 可以使用動態光散射法和使用靜態光散射法測量優良分子量/慣性半徑/**維里系數的粒度/粒度分布(粒度/粒度分布)。
  • HS-1000 OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射輝度計 從低亮度到高亮度可以高速·高精度的測量的分光輻射亮度計。 使用電子冷卻型的線性陣列傳感器,通過大冢電子獨自的分光光學設計和信號處理電路的寬亮度范圍和波長域,實現了低噪聲的高精度的測量。OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度
  • MCPD-9800/6800 OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800

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