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產品詳情

  • 產品名稱：Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備 它是一種延遲測量設備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態可以通過“無剝離、無損”進行測量。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實現高精度測量。
詳情介紹：


江蘇地區代理Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備RETS-100nx

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規格

手勢
類型表達式 延遲測量設備 RETS-100nx
測量項目（薄膜、光學材料） 延遲（波長色散）、慢軸、Rth*1，三維折射率*1等
測量項目（偏振板） 吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透射率等
測量項目（液晶電池） 細胞間隙，預傾角*1、扭曲角、取向角等
延遲測量范圍  0 ～ 60,000nm
延遲可重復性 3 μ≦0.08nm（晶體波長板約 600nm）
細胞間隙測量范圍 0 到 600μm（μn = 0.1）
細胞間隙可重復性 3π≦0.005μm（單元間隙約3μm、Δn=0.1時）
軸檢測可重復性 3° ≦0.08° （晶體波長板約 600nm）
測量波長范圍 400 至 800nm（可選）
探測器 多通道光譜儀
測量直徑 φ2mm （標準規格）
 光源 100W 鹵素燈
數據處理部 個人計算機、顯示器
舞臺尺寸：標準 100mm × 100mm（固定級）
選項 超高延遲測量
、多層測量
、軸角度校正功能
、自動 XY 級
、自動傾斜旋轉階段

*1 需要自動傾斜旋轉階段（可選）

特點
高精度測量，因為它是專有的光譜儀

■ 高精度


通過多波長測量實現

在短波長下，可以確定近似值的結果，如難以測量的 lamb標準 / 4，lamb標準 / 2。 結果不受薄膜厚度干擾波形的影響。
高精度 <高精度原因>
使用獨特的高性能多通道光譜儀
， 獲得大量的透射率信息 ， 可實現
高精度測量 （ 獲得的透射率信息約為 500 波長，是其他公司產品的 50 倍）

 

■ 范圍廣（延遲范圍：0~60000nm）

■ 范圍廣的測量范圍 同強度也能根據其他波長數據進行運算

 

■ 可知延遲波長色散形狀

■ 可測量可知延遲波長色散形狀的逆色散樣品

超高延遲測量 - 超雙折射薄膜可高速、高精度地測量 -

■ 高延遲
■ 高延遲測量 即使這么高的延遲，也可以用自己的算法進行無參數分析。
支持超高 Re.60000nm

 

多層測量 - 無需剝離即可測量各種薄膜的層壓狀態，

多層測量 不需要剝離，可以直接測量

 

軸角度校正功能 - 即使樣品安裝偏移，也能輕松測量可重復性 -

■ 將樣品重新放置10次，比較結果無角度校正
[ 樣品： 相位差膜R85 ]

將樣本重新放置 10 次，結果無角度校正，無比較，無校正：重新放置偏差：0.13，校正：重新校正變化：0.013 或更少

 

簡單軟件 - 顯著縮短測量和處理時間。 可操作性大幅UP-

簡單的軟件，你可以完成所有操作在一個屏幕上！



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