江蘇HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產品名稱：江蘇HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2
產品型號： SZ-100V2
產品廠商：HORIBA堀場
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簡單介紹：

江蘇區域供應HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2納米技術的研發是一個持續不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現更快的測量速度、更好的設備性能以及更低的設備運行能耗。納米技術在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領域發揮著關鍵作用。

詳情介紹：

總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2國內各區域供應

江蘇HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2

粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm

SZ-100V2 系列采用動態光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實現對小體積樣品的測量。

Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩定，這對于產品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過測量不同濃度下的靜態光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數 (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！

SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質、聚合物等。
使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數——粒徑、Zeta 電位和分子量
HORIBA研發的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
HORIBA研發的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

儀器規格（SZ-100-S2 和 SZ-100-Z2）

測量單元光學系統	光源：二極管泵浦倍頻激光器（532 nm，S2 / Z2 10 mW，HS2 / HZ2 100 mW）檢測器：光電倍增管（PMT）
激光分類	**
工作溫度和濕度	15 - 35 °C，RH 85% 或更低（無冷凝）
支架溫度控制溫度設置	0 - 90 °C（石墨電極電位樣品池控溫*高可達 70 °C）
吹掃	可以連接干燥氣體吹掃端口管。
電源供應	交流 100 - 240 V，50/60 Hz，150 VA
外觀尺寸	528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm（不包括突出部分）
重量	25 kg
電腦	帶有一個可用 USB 端口的 Windows 計算機
界面	USB 2.0（測量單元和 PC 之間）
操作系統	Windows® 10 32/64 位

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