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簡單介紹：
它是一種可以在薄膜生產現場在線測量薄膜厚度的裝置。
通過將原來的光譜干涉法與*新開發的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以至少測量間隔至少測量500 mm寬度的膜的膜厚（使用一個單元時）。 0.01秒
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