量子效率測量系統QE-2000 / 2100|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產品名稱：量子效率測量系統QE-2000 / 2100
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

可以立即測量優良量子效率（優良量子產率）。與粉末，溶液，固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外線區域中的雜散光。另外，通過采用集成的半球單元，可以實現明亮的光學系統，并且通過利用此優勢的再激發熒光校正，可以執行高精度的測量。此外，QE-2100能夠測量量子效率的溫度依賴性，并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。　

詳情介紹：

特殊長度

堅持高精度測量

可以立即測量優良量子效率（優良量子產率）
可以消除重新激發的熒光發射
采用集成半球單元可以實現明亮的光學系統。
低雜散光多通道光譜檢測器可大大減少紫外線區域中的雜散光

堅持簡單的操作

專用軟件易于操作
易于安裝/拆卸樣品測量單元
節省空間和緊湊的設計
可以通過使用分光鏡型激發光源來選擇任意波長。
通過在軟件上指定激發波長的波長和步長值，可以進行自動測量。

堅持多功能

與粉末，溶液，固體（薄膜）和薄膜樣品兼容
豐富的分析功能

測量項目

量子效率（量子產率）測量
激發波長依賴性測量
發射光譜測量
PL激發光譜測量
EEM（激發排放矩陣）測量

用法

用于LED和有機EL的熒光粉的量子效率（量子產率）測量
膜狀
樣品的透射熒光/反射熒光的量子效率（量子產率）測量-遠程熒光粉的熒光樣品等
量子點，熒光探針，生物場，籠形化合物等的熒光測量。
染料敏化太陽能電池的量子效率（量子產率）測量
復雜化合物的測量

精度高的原因

1.具有完整半球的理想光學系統

QE-2000配備了一個積分半球。與積分球（全局）相比，積分球具有以下特征。

由于非發光部（保持器等）可以暴露于外部，因此可以保持自吸收較小，并且可以實現理想的光學系統。
反射鏡可使同一點的照度增加一倍，并且可以高靈敏度進行測量。
樣品測量池可以輕松安裝和拆卸，幾乎沒有損壞積分球內部的風險。

2.通過再激發熒光校正功能觀察“真實的物理性質值”

在包括再次激發熒光發射的狀態下，觀察到的是設備的特性，而不是觀察到材料本身的物理性質，并且無法獲得真實的物理性質值。QE-2000可以通過利用積分半球的再激發熒光校正來執行簡單而準確的測量。

3.低雜散光多通道光譜檢測儀可減少紫外線區域中的雜散光

使用傳統的檢測器（多色儀），可以在高水平檢測紫外線區域中的雜散光，因此它不適用于測量量子效率（量子產率）。大冢電子通過開發消除雜散光的技術解決了這一問題。安裝在QE-2000上的多通道光譜探測器的雜散光強度約為我們傳統產品的1/5，即使在紫外線區域也可以進行高精度的測量。

產品信息
原則
規格
測量例
QE-2100

	總光通量測量系統HM / FM系列
	光譜分布測量系統GP系列
	高速LED光學特性監控器LE series
	高靈敏度近紅外量子效率測量系統QE-5000

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產品名稱：量子效率測量系統QE-2000 / 2100

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